Empezar » Componentes electrónicos

Nuevo método de test de ASIC

25 septiembre 2009 Redacción noticiasIT 1 views

Nuevo método de test de ASIC

ATEEDA implementa exitosamente una revolucionaria solución que reduce el tiempo y la complejidad de las pruebas.

e2v, empresa representada en España por Anatronic, S.A., anuncia que ATEEDA, líder mundial en herramientas de test de semiconductores, ha desarrollado una nueva solución para comprobar los ASIC de automoción de señal mixta de e2v con la herramienta OptimATE de ATEEDA.

Tras analizar los resultados, e2v ha confirmado que OptimATE puede ofrecer un nuevo nivel de rendimiento para las tareas de comprobación de sus productos ASIC con el objetivo de reducir el tiempo y la complejidad de las pruebas, al mismo tiempo que se consigue aumentar el rango.

Con esta solución, e2v se beneficia de una herramienta más rápida y eficaz que otros equipos convencionales de test. Además, como consecuencia de los resultados exitosos de las pruebas, será posible recoger mayor cantidad de datos en los procesos de test.

ATEEDA ha desarrollado un concepto innovador de test “principalmente digital” de hardware analógico con otra de sus soluciones (LinBIST). Esto permite realizar pruebas ‘built-in-the-test’ de convertidores ADC y DAC con mínima sobrecarga on-chip.

Andrew Beaumont, General Manager de ASIC de Señal Mixta de e2v, destaca que “al ofrecer soluciones y servicios al mercado de la automoción, que demanda elevada calidad, tenemos que maximizar nuestra cobertura de test IP analógico de baja frecuencia high-end. La herramienta OptimATE nos permite combinar elevadas prestaciones con reducción en el tiempo de comprobación. Además, es compatible con las especificaciones de nuestro IP de cadena de adquisición de sensor”.